電磁干擾（EMI）測試：

輻射騷擾測試（RE）：參考標準為 EN55032，主要測量智能鎖在運行過(guò)程中向周?chē)臻g輻射的電磁波強度，確保其不會(huì )對附近的無(wú)線(xiàn)通信設備等造成干擾。

傳導騷擾測試（CE）：標準同樣是 EN55032，用于檢測智能鎖通過(guò)電源線(xiàn)、信號線(xiàn)等傳導介質(zhì)向外部傳輸的電磁干擾信號，避免影響同線(xiàn)路其他電器設備的正常運行。

諧波電流測試（Harmonic）：依據 IEC 標準，測試智能鎖接入電網(wǎng)后產(chǎn)生的諧波電流，防止其對電網(wǎng)造成諧波污染，影響電網(wǎng)的穩定性。

電壓變化與閃爍測試（Flicker）：按照 IEC 標準，評估智能鎖工作時(shí)引起的電網(wǎng)電壓變化和閃爍情況，確保不會(huì )對連接在同一電網(wǎng)的其他設備產(chǎn)生不良影響。

電磁抗擾度（EMS）測試：

靜電放電抗擾度測試（ESD）：參考 IEC 標準，模擬人體或物體對智能鎖放電的情況，檢測智能鎖在靜電干擾下能否正常工作，例如對指紋識別區域、密碼鍵盤(pán)等人體易接觸部位進(jìn)行 ±15kV 空氣放電，對電源接口、通信接口實(shí)施 ±8kV 接觸放電。

射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測試（RS）：依據 IEC 標準，將智能鎖置于特定強度的射頻電磁場(chǎng)中，考察其在電磁波輻射干擾下的工作性能，確保在如移動(dòng)基站等電磁環(huán)境中能正常運行。

電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（EFT）：按照 IEC 標準，模擬開(kāi)關(guān)操作、電機啟動(dòng)等產(chǎn)生的高頻電磁脈沖對智能鎖的干擾，檢測其抗干擾能力，通常會(huì )施加 ±2kV 的 100kHz 高頻脈沖群。

浪涌抗擾度測試（SURGE）：參考 IEC 標準，模擬雷擊等外部電源造成的瞬態(tài)過(guò)電壓，測試智能鎖的耐受力和保護措施的適用性，一般線(xiàn) - 線(xiàn)間施加 1kV 浪涌，線(xiàn) - 地間施加 2kV 浪涌。

射頻場(chǎng)感應的傳導騷擾抗擾度測試（CS）：依據 IEC 標準，檢測智能鎖對通過(guò)電源線(xiàn)、信號線(xiàn)等傳導進(jìn)來(lái)的射頻干擾的抵抗能力，確保其在有射頻干擾的環(huán)境中不會(huì )因傳導干擾而出現故障。

電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測試（DIP）：參考 IEC 標準，模擬電網(wǎng)電壓暫降、短時(shí)中斷等異常情況，考察智能鎖在這些情況下的工作穩定性和恢復能力。