軍用電子元器件第三檢測中心，溫度交變試驗

負溫度系數熱敏電阻(NTC)的檢測。

(1)、測量標稱(chēng)電阻值Rt 用萬(wàn)用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同，即根據NTC熱敏電阻的標稱(chēng)阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實(shí)際值。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測試時(shí)應注意以下幾點(diǎn)：A Rt是生產(chǎn)廠(chǎng)家在環(huán)境溫度為25℃時(shí)所測得的，用萬(wàn)用表測量Rt時(shí)，亦應在環(huán)境溫度接近25℃時(shí)進(jìn)行，以保證測試的可信度。B 測量功率不得超過(guò)規定值，以免電流熱效應引起測量誤差。C 注意正確操作。測試時(shí)，不要用手捏住熱敏電阻體，以防止人體溫度對測試產(chǎn)生影響。

(2)、估測溫度系數αt 先在室溫t1下測得電阻值RT1，再用電烙鐵作熱源，靠近熱敏電阻Rt，測出電阻值RT2，用溫度計測出此時(shí)熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進(jìn)行計算。

7壓敏電阻的檢測。用萬(wàn)用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正、反向絕緣電阻，均為無(wú)窮大，否則，說(shuō)明漏電流大。若所測電阻很小，說(shuō)明壓敏電阻已損壞，不能使用。

8光敏電阻的檢測。

A 用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住，此時(shí)萬(wàn)用表的指針基本保持不動(dòng)，阻值接近無(wú)窮大。此值越大說(shuō)明光敏電阻性能越好。若此值很小或接近為零，說(shuō)明光敏電阻已燒穿損壞，不能再繼續使用。

B 將一光源對準光敏電阻的透光窗口，此時(shí)萬(wàn)用表的指針應有較大幅度的擺動(dòng)，阻值明顯減些 此值越小說(shuō)明光敏電阻性能越好。若此值很大甚至無(wú)窮大，表明光敏電阻內部開(kāi)路損壞，也不能再繼續使用。

C 將光敏電阻透光窗口對準入射光線(xiàn)，用小黑紙片在光敏電阻的遮光窗上部晃動(dòng)，使其間斷受光，此時(shí)萬(wàn)用表指針應隨黑紙片的晃動(dòng)而左右擺動(dòng)。如果萬(wàn)用表指針始終停在某一位置不隨紙片晃動(dòng)而擺動(dòng)，說(shuō)明光敏電阻的光敏材料已經(jīng)損壞。