電子異物分析質(zhì)量FTIR異物研究，表面異物、斑點(diǎn)異物、霉變異物、SEM分析、EDS分析、FTIR分析、深圳電子異物檢測質(zhì)量篩選分析試驗室、各領(lǐng)域專(zhuān)業(yè)工程師,自有實(shí)驗室,儀器設備齊全!異物分析 選擇異物檢測,檢測精度到ppb級別,售后技術(shù)支持有保障! 

快速判斷異物或雜質(zhì)的成分,分析產(chǎn)生原因,進(jìn)行整改提升產(chǎn)品良率,消除生產(chǎn)隱患,保障生產(chǎn)的穩定性.異物分析，是專(zhuān)門(mén)分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，

異物分析通常是指針對產(chǎn)品上的外來(lái)不明物質(zhì)、表面污染、析出物等進(jìn)行分析的檢測技術(shù)。通過(guò)分析異物的成分，找到異物的來(lái)源，從而找到改善的方法。

異物分析的方法目前主要有主要有紅外光譜法(FTIR)和掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)，這兩種方法是分別針對不同的異物的。

  紅外光譜法

紅外光譜定性是根據紅外光譜官能團的吸收峰來(lái)確定物質(zhì)的結構（主要是有機化合物）。紅外譜圖縱坐標表示吸光率（A）或透過(guò)率（T%），橫坐標表示波數（cm-1），通過(guò)不同的官能團在不同的波數段出峰以及峰形可以解析出物質(zhì)的結構，從而得到化合物的種類(lèi)。對于一些常見(jiàn)的化合物可以通過(guò)與譜庫中的譜圖進(jìn)行匹配從而得到成分組成。對于異常情況的分析，通常采用的是顯微紅外法。由于顯微鏡的作用，相對于普通紅外法，顯微紅外具有樣品量少、無(wú)損、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。

2.      掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)

掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)是通過(guò)掃描電鏡/能譜儀（SEM/EDS）對異物或異常部位掃描，得到元素種類(lèi)及其含量。通過(guò)掃描電鏡（SEM）可以觀(guān)察樣品各種凹凸不平表面的細微結構形貌，從能譜儀可以得到元素的種類(lèi)及含量。

結束